1. Surface analysis with STM and AFM: experimental and theoretical aspects of image analysis

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع : ، Surfaces )Physics(-- Optical properties,، Scanning tunneling microscopy,، Atomic force microscopy,، Image analysis

رده :
QC
173
.
4
.
S95
.
M3
1996